X射线荧光光谱仪

FISCHERSCOPE® HM2000 硬度仪

FISCHERSCOPE® HM2000 硬度仪配有HT2000测量头，用于测量块状样品及1μm以上涂层硬度的自动化纳米压痕仪。FISCHERSCOPE® HM2000是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577，采用仪器化压入测试方法的自动化纳米压痕仪。采用该仪器，可测量难以对位的被测位置，十分适用于研发、质量控制、来料检验和过程控制等领域。

资料说明

■ HT2000测量头部件包括了压头、加载单元、用于判断压入深度位移的测量单元以及整个电子驱动系统。特别设计的触地控制式压头，保证了仪器具有极小的系统柔度。特征 • 无需复杂样品制备的快速测量，HM2000只需要30秒，其压头即可移动到测量面，并完成零位检测。 • 测量过程中零位实时检测 • 可编程XY测量平台，可用于自动化测量 • 用户友好的Z轴马达驱动控制 • 用于精确定位的三种放大倍率的显微镜 • 大理石框架结构保证几何稳定性，减少热漂移和震动影响 • 测量暗表面，样品无需进行预处理 • 由于HT2000测量头出色的热稳定性，精确测量材料蠕变的时间最多可达数小时。

应用领域
■ 典型的应用领域：

• 涂料、塑料或硬质合金涂层（PVD、CVD）

• 电镀层（装饰性、功能性）

• 硬质氧化层材料表征

• 医用材料

• 电子零部件、接插件、焊线等

• 离子镀涂层

CT（可选项）

用户咨询